Publications des scientifiques de l'IRD

Menge D.M., Zhong D., Guda T., Gouagna Louis-Clément, Githure J., Beier J., Yan G. (2006). Quantitative trait loci controlling refractoriness to Plasmodium falciparum in natural Anopheles gambiae mosquitoes from a malaria endemic region in Western Kenya. Genetics, 173 (1), p. 1-29. ISSN 0016-6731.

Titre du document
Quantitative trait loci controlling refractoriness to Plasmodium falciparum in natural Anopheles gambiae mosquitoes from a malaria endemic region in Western Kenya
Année de publication
2006
Type de document
Article
Auteurs
Menge D.M., Zhong D., Guda T., Gouagna Louis-Clément, Githure J., Beier J., Yan G.
Source
Genetics, 2006, 173 (1), p. 1-29 ISSN 0016-6731
Plan de classement
Epidémiologie du paludisme [052ANOPAL03]
Descripteurs
PALUDISME ; RELATION HOTE PARASITE ; MOUSTIQUE ; GENOTYPE ; ANALYSE DE DONNEES ; ETUDE EXPERIMENTALE ; ANALYSE GENETIQUE ; QTL.QUANTITATIVE TRAIT LOCUS ; MICROSATELLITE
Description Géographique
KENYA
Localisation
Fonds IRD [F B010036409]
Identifiant IRD
fdi:010036409
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